電子天平
-
BA1104IE是一款高精度大量程的半微量分析天平,常用于需要進(jìn)行精確測(cè)量的實(shí)驗(yàn)和應(yīng)用,量程為1100?g,可讀性為0.1mg。
Learn More -
BA6104IE是一款高精度大量程的半微量分析天平,常用于需要進(jìn)行精確測(cè)量的實(shí)驗(yàn)和應(yīng)用,量程為610?g,可讀性為0.1mg。
Learn More -
BA5104IE是一款高精度大量程的半微量分析天平,常用于需要進(jìn)行精確測(cè)量的實(shí)驗(yàn)和應(yīng)用,量程為510?g,可讀性為0.1mg。
Learn More -
BA4104IE是一款高精度大量程的半微量分析天平,常用于需要進(jìn)行精確測(cè)量的實(shí)驗(yàn)和應(yīng)用,量程為410?g,可讀性為0.1mg。
Learn More -
BA3104IE是一款高精度大量程的半微量分析天平,常用于需要進(jìn)行精確測(cè)量的實(shí)驗(yàn)和應(yīng)用,量程為310?g,可讀性為0.1mg。
Learn More -
BA2104IE是一款高精度大量程的半微量分析天平,常用于需要進(jìn)行精確測(cè)量的實(shí)驗(yàn)和應(yīng)用,量程為210?g,可讀性為0.1mg。
Learn More -
-
-
-
-
-
-
-
-